ESJ200-4B電子分析天平。外部校準萬(wàn)分之一天平,稱(chēng)量范圍:200g,可讀性:0.1mg,后置式電磁力傳感器技術(shù)獲得更高的分辨率。配備外置F1級無(wú)磁不銹鋼校準砝碼,隨時(shí)隨需校準。
ESJ210-4B電子分析天平。外部校準萬(wàn)分之一天平,稱(chēng)量范圍:210g,可讀性:0.1mg,后置式電磁力傳感器技術(shù)獲得更高的分辨率。配備外置F1級無(wú)磁不銹鋼校準砝碼,隨時(shí)隨需校準。
ESJ220-4B電子分析天平。外部校準萬(wàn)分之一天平,稱(chēng)量范圍:220g,可讀性:0.1mg,后置式電磁力傳感器技術(shù)獲得更高的分辨率。配備外置F1級無(wú)磁不銹鋼校準砝碼,隨時(shí)隨需校準。
HZK-FA110電子分析天平。萬(wàn)分之一電子分析天平,稱(chēng)量范圍:0~110g,可讀性:0.1mg,外部校準,電磁力質(zhì)量傳感器,七級防震濾波可調功能。稱(chēng)重穩定時(shí)間可調功能。內置時(shí)間溫度設定顯示功能。
HZK-FA210電子分析天平。萬(wàn)分之一電子分析天平,稱(chēng)量范圍:0~210g,可讀性:0.1mg,外部校準,電磁力質(zhì)量傳感器,七級防震濾波可調功能。稱(chēng)重穩定時(shí)間可調功能。內置時(shí)間溫度設定顯示功能。